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聚酰亚胺薄膜耐电晕的基本理论

点击次数:544    发布日期:2016-08-01   本文链接:http://www.pibomo.com/datum/620.html

      在电场作用下,绝缘材料聚酰亚胺薄膜的部分区域发生放电短路的现象称为局部放电。根据局部放电发生部位的不同,可分为绝缘材料内部的局部放电、表面的局部放电、发生在导体边缘而周围气体被击穿的电晕。局部放电是一种复杂的物理过程,有电、声、光、热等效应,伴随产生各种分解产物。聚酰亚胺薄膜绝缘材料在放电作用下的绝缘破坏除与材料本身结构有关,还受如下因素影响。

1、频率的影响。放电次数随频率成比例增加,一般绝缘材料的电老化寿命与频率成反比。

2、电场强度的影响。场强增加,放电次数增加,且加快了从局部放电到击穿的进程,一般聚酰亚胺薄膜绝缘材料的耐电场强度与其寿命有反幂关系。

3、温度的影响。一般温度增加,聚酰亚胺薄膜绝缘材料的耐放电性能降低,电老化寿命缩短。

4、相对湿度的影响。一般绝缘材料的电老化寿命随材料所处环境的湿度的增大而缩短。

5、机械应力的影响。材料内部存在应力时,其耐局部放电性能下降。

      电晕放电,是交流电压下局部放电的一种。包括在电极附近沿绝缘体表面所发生的表面电晕和聚酰亚胺薄膜绝缘材料内部气隙中电场集中处发生的间隙电晕两种。它们不仅随电极形状、电压和放电能量而异,而且受到材料的影响,也与放电时电子和离子撞击、局部发热和臭氧等因素有关。在制造绝缘体的过程中难免不了会引入气隙和杂质,这也是影响材料耐电晕性的因素。在绝缘体内部气隙中产生的局部击穿称为绝缘内部的游离,或称为介质中的电晕。它对绝缘材料的危害性突出表现在绝缘寿命的迅速下降。目前国际上对于纳米粒子填充聚合物提高耐电晕强度的原因尚无统一的认识,没有具体的研究纳米材料的耐电晕机理。


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